LAwave?薄膜和材料表面的無損檢測(cè)儀，利用脈沖激光誘導(dǎo)的聲表面波無損 檢測(cè)薄膜的彈性模量（楊氏模量），密度和厚 度。甚至可以表征多孔薄膜和表面存在微結(jié)構(gòu) 的薄膜。 徃測(cè)薄膜的厚度可以低至幾個(gè)納米；徃測(cè)薄 膜可以是超硬薄膜，如DLC類金剛石薄膜，也可以是超軟薄膜，如聚合物薄膜。對(duì)于表面粗 糙度丌太好的熱噴涂涂層也可以通過低頻聲波 測(cè)量。 薄膜彈性模量的測(cè)定有著廣泛的應(yīng)用需求， 是決定薄膜機(jī)械性能的重要指標(biāo)，是薄膜內(nèi)部 原子鍵合大小的重要標(biāo)志。微結(jié)構(gòu)和內(nèi)部孔隙 會(huì)導(dǎo)致薄膜內(nèi)部原子鍵合的缺失，相應(yīng)的楊氏 模量也會(huì)發(fā)生變化，利用這一對(duì)應(yīng)關(guān)系，可以 對(duì)薄膜中的孔隙和缺陷進(jìn)行評(píng)估。
產(chǎn)品特點(diǎn) ：
無損測(cè)量；
薄膜厚度：幾納米到幾百微米；
薄膜種類：聚合物到金剛石；
測(cè)量時(shí)間：小于一分鐘 ；
高重復(fù)性；
操作簡(jiǎn)單，配置緊湊 ；
測(cè)試區(qū)域：最小 5×5 mm ；
對(duì)薄膜幾何形狀沒有要求；
對(duì)薄膜平整度要求低；
國(guó)際認(rèn)證測(cè)量標(biāo)準(zhǔn) EN 15042-1。
參考鏈接：http://yingjianba.cn/product/show-83.aspx